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开原导电材料电阻率测试仪生产厂家
仪器的技术指标
Q值测量范围:2~1023
Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
电感测量范围:14.5nH~8.14H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
电容直接测量范围:1~460pF
主电容调节范围: 30~500pF
电容准确度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%
信号源频率覆盖范围10KHz-60MHz或200KHz-160MHz
型号频率指示误差:3*10-5 ±1
Q值合格指示预置功能范围:5~1000
Q表正常工作条件
环境温度:0℃~+40℃
相对湿度:<80%;
电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
其他
消耗功率:约25W;
净重:约7kg;
外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
产品配置:
测试主机一台;
电感一套;
夹具一 套
对于某一给定电极布置,当电介质为空气时,可以计算得出边缘电容Ce,同时该计算值具有适当的精度。当某一样本放置在电极之间时,边缘电容值可能发生变化,此时要求使用一个边缘电容修正值,该修正值可见表1给出的信息。在许多条件下,已经获得了经验性修正值,这些修正值见表1所示(表1适用于薄电极场合,例如箔片)。在日常工作中,当佳精度不作要求时,很方便使用无屏蔽的两电极系统,同时进行适当的修正。因为面积(同时因此Cv)以直径平方级增大时,然而周长(同时因此Ce)随着直径线性增大时,由于忽略边缘修正导致的电容率百分比误差随着样本直径增大而减小。然而,为进行得测量,有必要使用受保护的电极。6.2受保护电极——在受保护电极边缘的边缘现象和杂散电容实际上可通过增加一个按图7和图8所示的保护电极来消除。
耗散因子通常与样本几何形状无关,同时也可以依据测量值计算得出。4.2本方法提供了(1)电极,装置和测量方法选择指南;和(2)如何避免或修正电容误差的指导。边缘,6括号里的粗体字参阅这些试验方法的参考文献清单。5.1电容率——绝缘材料通常以两种不同方式来使用,即(1)用于固定电学网络部件,同时让其彼此以及与地面绝缘;(2)用于起到某一电容器的电介质作用。在*种应用中,通常要求固定的电容尽可能小,同时具有可接受且一致的机械,化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中,要求电容率具有一个高值,以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力,以将交流电晕降至小。
同时过量的粘合剂可以在箔片边缘上工作。一个非常有效的方法是使用一个窄辊,同时沿着表面向外滚压,直到在箔片上没有可见的标记。通过小心处理,粘合剂膜可以减小至0.0025mm。该膜层与样本串联相连,这将总是导致测量的电容率太低,同时耗散因子有可能太高。对于厚度小于0.125mm的样本,这些误差通常变得非常大。对于这类薄样本,只有当膜层耗散因子几乎与样本耗散因子相同时,该耗散因子误差才是可以忽略的。当电极将延伸到边缘,则制造的电极应大于样本,然后切成带小型细磨刀片的边缘。受保护电极和保护电极可采用一个电极制造而成,该电极包含整个表面,通过配有一个窄切割边缘的圆规方式来裁剪一条窄带(可以为0.5mm)来制备电极。
键强度比较大,如α-Al2O镁橄榄石晶体等,在外电场作用下很难发生离子松弛极化,只有电子式和离子式的位移极化,所以无极化损耗,仅有的一点损耗是由漏导引起的(包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导)。这类晶体的介质损耗功率与频率无关,损耗角正切随频率的升高而降低。因此,以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。结构松散的离子晶体,如莫来石(3Al2O3·2SiO2)、董青石(2MgO·2Al2O3·5SiO2)等,其内部有较大的空隙或晶格畸变,含有缺陷和较多的杂质,离子的活动范围扩大。在外电场作用下,晶体中的弱离子有可能贯穿电极运动,产生电导打耗。弱离子也可能在一定范围内来回运动,形成热离子松弛。出现极化损耗。
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