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大部分是集成电路的软故障,一般的测试仪器很难发现。减少负反馈的方法可以用来补救,不仅有效,而且操作简单。当集成电路出现严重的增益不足故障时,某些引脚的DC电压也会发生显著变化,因此可以通过常规的检查方法来发现。(4)噪音大。当集成电路出现较大噪声故障时,可以放大信号,但噪声也很大,导致信噪比下降,影响信号的正常放大和处理。如果噪声不明显,大多是集成电路的软故障,用常规仪器检测相当困难。由于当集成电路发生大噪声故障时,某些引脚的DC电压会发生变化,因此可以通过常规的检查方法来找到故障位置。(5)性能恶化。这是一种软故障,故障现象多种多样,而且IC引脚的DC电压变化一般较小,用常规检查方法无法发现,只能用替查方法。
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解决了高压大电流条件下功率器件动态参数的测试,降低了国内企业的测试成本,提高了企业在市场上的竞争力;根据我国太阳能电池组件的测试要求,对太阳能电池组件的光谱响应技术进行了研究。研究了太阳能电池组件的测试方法,确定了太阳能电池组件的测试方案,创新性地开发了太阳能电池组件I-V特性测试系统,实现了太阳能电池组件多参数的测试。针对国际禁运、中国“空芯”问题,以及国家03重大专项中的核心电子器件和高端通用芯片,开展了高可靠性试验评估技术与方法研究。近年来,我们成功开发了“智能卡专用测试系统”、“电源管理芯片测试系统”、“电力电子器件测试系统”、“太阳能电池测试系统”、“锂电池测试系统”和霍尔元件测试系统等。,并获得4项北京市科学技术奖。
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销售收入达到5411.3亿元,同比增长24.8%。虽然我国集成电路产业取得了一定成绩,整体实力明显提升,但我国集成制造能力与国际先进水平仍有较大差距,进出口结构失衡仍是制约产业发展的突出问题。作为全球消费电子市场,我国集成电路中大量核心产品和技术仍需进口。据海关统计,2017年我国进口集成电路3770亿片,同比增长10.1%,进口值2601.4亿美元,同比增长14.6%。创新研究强化仪器企业利润核心技术和产品严重依赖进口,不仅制约了我国信息产业的整体发展水平,也阻碍了相关产业的发展和进步。据《经济参考报》报道,我国将出台一系列政策,解决集成电路先进技术创新能力不足的问题。
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